四探針電阻測試儀的測試原理基于?電流-電壓分離測量法?，通過消除接觸電阻和引線電阻的影響實現(xiàn)高精度測量。其核心工作原理如下：

一、四探針電阻測試儀基本測量原理

?探針布置與功能分工?
四個探針以直線或矩形排列接觸被測樣品表面，外側兩探針（1、4號）連接恒流源施加穩(wěn)定電流，內側兩探針（2、3號）連接高精度電壓表測量電勢差。

?電流探針?：驅動電流注入樣品形成電場分布。

?電壓探針?：檢測非電流路徑位置的電壓差，避免接觸電阻干擾。

二、四探針電阻測試儀關鍵設計特性

?開爾文四線法優(yōu)化?
通過獨立電流回路和電壓測量回路，消除引線電阻和接觸電阻的影響，確保測量僅反映樣品本身特性。

?探針配置適應性?

?直線排列?：適用于大尺寸塊狀或板狀樣品，探針間距可調。

?矩形/正方形排列?：適合細長條狀或棒狀樣品，減少邊緣效應干擾。

?儀器硬件特性?

探針采用碳化鎢材質，配合寶石導套和彈簧壓力裝置，確保接觸穩(wěn)定性和耐久性。

數(shù)字電壓表分辨率達0.1μV，支持自動量程切換和極性調節(jié)。

三、四探針電阻測試儀適用場景與優(yōu)勢

?主要應用?
廣泛應用于半導體晶圓、金屬薄膜、陶瓷等材料的電阻率和方阻測量，尤其適合微區(qū)或局部電學特性分析。

?技術優(yōu)勢?

?非破壞性?：表面接觸測量，不干擾材料內部結構。

?高精度?：修正系數(shù)（如η/F）可適配不同幾何形狀樣品，減小邊緣效應誤差。

?環(huán)境穩(wěn)定性?：測量結果受溫濕度等外部條件影響小。

四、四探針電阻測試儀典型儀器結構示例（以BEST-300C型為例）

?電氣模塊?：集成恒流源、高精度電壓檢測及數(shù)字處理單元，支持電阻率/方阻自動切換顯示。

?機械結構?：配備高度粗調/細調裝置和壓力自鎖機構，確保探針接觸壓力均勻可控

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